23.09.2004 - HALBLEITERLASER
Aus dem Laser kommt Strom…
… und das MBI gewinnt aus diesem Strom wertvolle Informationen
Josef Zens
 | | Der Forscher Tran Tien Quoc am Spektro-
meter, mit dem die Eigenschaften von
Laserdioden gemessen werden - Bild: MBI
| | | „Wir versuchen, Wissen, das am MBI entwickelt wurde, in die Praxis zu übertragen.“ So umschreibt Dr. Jens Tomm die Aufgabe seiner Arbeitsgruppe am Max-Born-Institut. Eine Spezialität des MBI ist es, Analysemethoden zu entwickeln und zu verfeinern. Ein gutes Beispiel dafür ist das EU-Projekt BRIGHT, an dem aus dem Forschungsverbund auch noch das Ferdinand-Braun-Institut beteiligt ist. Es geht um Halbleiterlaser. Diese sind kleiner und günstiger als Gas- oder Festkörperlaser, doch dafür haben sie schlechtere Strahleigenschaften. Das betrifft etwa die Brillanz des Laserlichts: Kann zuverlässig und exakt eine Wellenlänge abgestrahlt werden und ist der Strahl auch scharf fokussiert? Das wollen die Hersteller der Dioden ebenso wie die Anwender wissen. Und sie wollen wissen, woran es liegt, wenn sich die Eigeschaften der Diode verschlechtern. Das MBI hilft ihnen dabei.
Defekte haben viele Ursachen. Manchmal liegt es an mechanischen Belastungen, Verspannungen etwa, die beim Löten der Bauelemente
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Das Max-Born-Institut für Nicht-lineare Optik und Kurzzeitspek-troskopie betreibt Grundlagen-forschung auf dem Gebiet der nichtlinearen Optik und Kurz-zeitdynamik bei Wechselwir-kung von Materie mit Laserlicht und verfolgt daraus resultieren-de Anwendungsaspekte. Schwerpunkte des Forschungs- programms sind die Realisie- rung neuer Quellen für ultrakur- ze und ultraintensive Lichtim-pulse und deren Einsatz in Physik, chemischer Physik und Materialforschung. Das MBI ist in zahlreiche nationale und in- ternationale Kooperationen ein- gebunden und wird von der EU als Large Scale Laser Facility gefördert. Es ist Teil des For-schungsverbundes Berlin e.V. (FVB). | entstehen oder die durch das Leuchten selbst hervorgerufen werden. Andere Defekte haben nichts mit Verspannungen zu tun. „Wir können viele solcher Fehler entdecken und voneinander un-terscheiden“, erläutert Tomm. Der Clou: Die Messungen finden bei Zimmertem-peratur statt und die Diode geht dabei nicht kaputt. „Andere Gruppen können all das auch“, sagt Tomm, „aber eben nicht unter Normalbedingungen“. Er rechnet seine Arbeitsgruppe zur Weltspitze. „Unsere Messun-gen sind zerstörungsfrei, wir strahlen nur ein bisschen Licht
auf die Diode.“
Das Licht, es wird von einer Lampe erzeugt, regt das Bau-element an, Strom zu erzeugen, den so genannten Fotostrom. Es ist quasi die Umkehrung der Funktionsweise eines Halbleiterlasers: „Der strahlt ja Licht ab, wenn man Strom durchfließen lässt“, erklärt Tomm, „wir machen es andersherum und erhalten aus der Messung des Foto-stroms zusätzliche Informationen über das Bauelement.“ Die praxis-nahen Messbedingungen haben das MBI zum begehrten Koopera-tionspartner werden lassen, nicht nur im EU-Projekt, sondern auch für industrielle Anwender. Tomm: „Damit schlagen wir eine Brücke von der Grundlagenforschung zur Anwendung.“
Mehr im Internet:
Max-Born-Institut für Nichtlineare Optik und Kurzzeitspektroskopie
EU-Projekt BRIGHT
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Berlin,
den 10.02.2012
